PDF《光放大器试验方法 第3部分：噪声参数》

5 对噪声因子的测量有两类广泛采用但本质上完全不同的方法:光谱分析仪(OSA)法和电 谱分析仪(ESA)法.对这两种方法基本原理和适用性的分析参见附录 A.第6章和第

7 章分 别对这两种试验方法进行了描述. 两种方法对噪声参数可测性的对比如表

1 所示. 与自发辐 射―自发辐射差拍噪声因子不同,Sig_ASE 是另外一种表征自发辐射―自发辐射差拍噪声强 度的参量,其应用范围及与自发辐射―自发辐射差拍噪声因子的关系参见附录 B. 表1光谱分析仪和电谱分析仪两种方法对噪声参数的可测性 参数 光谱分析仪方法 电谱分析仪方法 总的 NF 或F?√信号―自发辐射差拍 NF 或F√(√) 散弹 NF 或F(√) (√) 自发辐射―自发辐射差拍 NF 或F(√) ? MPI NF 或F?√等效自发辐射―自发辐射光谱带宽 Bsp-sp (√) ? 前向 ASE 功率 √ (√) 后向 ASE 功率 (√) ? ASE 谱宽 (√) (√) Sig_ASE √ ? 注1:√表示本方法可测参数;

(√)表示本方法具有测量该参数的可能性;

?表示本方法不能测量. 注2:除光谱仪法外,Sig_ASE 参量还可使用带通滤波器和光功率计法测量,见第

8 章.

6 光谱分析仪测量方法 6.1 试验装置 6.1.1 试验装置框图 光谱分析仪法测量 OA 噪声参数常用的试验方法可分为两种,ASE 直接内插法(DI) 和偏振消除法(PN) ,其系统框图分别如图 1a 和图 1b 所示. a)ASE 直接内插法(DI) GB/T 16850.3-20XX

6 b)偏振消除法(PN) 图1光谱分析仪法测量 OA 噪声参数的两种典型试验装置框图 6.1.2 窄带光源 试验使用的窄带光源可分为固定波长光源和可调波长光源两类. a) 固定波长光源 光源应满足待测样品相关指标对波长和功率的要求.除非另有规定,应使用连续光源, 其光谱宽度(半高宽 FWHM)小于 l nm.分布反馈激光器(DFB) 、分布布拉格反射激光器 (DBR)和外腔激光器(ECL)等单谱线激光器均可作为光源.光源的自发辐射和光谱底部 的谱展宽应尽可能小,边模抑制比应大于

30 dB,输出功率波动应小于 0.05 dB. 注:在光源输出端使用光隔离器可避免反馈光对光源边模抑制比和输出功率波动的影响. b) 可调波长光源 除光源的波长调谐范围和输出功率应满足待测样品相关指标的要求, 其它性能指标要求 与固定波长光源相同. 6.1.3 偏振控制器 该器件应能把任意偏振态的信号光转变为任何其它可能的偏振状态 (例如: 各种方向的 线偏振、椭圆偏振、圆偏振) .偏振控制器可以是全光纤型或者由晶体器件型,在各种偏振 态下,其插入损耗变化应小于 0.2 dB,每一端的光回波损耗应大于

50 dB. 6.1.4 线偏振器 线偏振器的消光比应至少为

30 dB,在每一端的光回波损耗应大于

50 dB.为使输入信 号功率最大,宜优先选用可旋转的线偏振器. 6.1.5 可变光衰减器 衰减可变范围应大于

40 dB, 稳定性应优于?0.1 dB, 每一端的光回波损耗应大于

50 dB. 6.1.6 OSA 在OA 工作波长带宽内, OSA 测量的偏振相关性应优于?0.1 dB,稳定........