PDF《PS W 22 W》

1 5m L ;

石墨颗粒为

0 .

1 2 8m m/ 孔径(

1 2 0目) .原子吸收最佳测定条件是: 测定波长

2 2

8 . 2n m , 灯电流为 7m A , 燃烧器高度 为8m m , 狭缝宽度为

0 . 2n m , 空气流量

5 . 0L / m i n , 乙炔流量

0 . 5L / m i n .

3 结果与讨论

3 .

1 富集液中支持电解质对溶出峰的影响 研究了 N a C l 、 N a N O

3、 N a 2S O

4、 K C l 、 K N O

3 及K2S O

4 6种电解质对富集的影响.发现钾盐比钠盐的响 第33卷

2 0

0 5年 1月 分析化学 ( F E N X I H U A X U E ) 研究简报 C h i n e s eJ o u r n a l o f A n a l y t i c a l C h e m i s t r y 第 1期

1 1 7~

1 1

9 P S

2 2 P D F ( T r i a l V e r s i o n ) W W W . C C Y T . N E T 应值大些, 这是因为 K + 的电导率大于 N a + 的电导率, 溶液电阻小, 电沉积富 集效果较好;

在阴离子方 面, 盐酸盐的响应值较大, 故选 K C l 作为支持电解质.考察了支持电解质 K C l 浓度对响应值 A的影响. K C l 在0~

0 .

0 0 6m o l / L范围内, C d 2+ 的吸光度缓慢增长;

当KCl浓度大于

0 .

0 0 6m o L / L时, 响应值不再 增大, 实验选择

0 .

0 0 8m o L / L的KCl作为预富集的支持电解质.

3 .

2 溶出电解质对溶出峰的影响 在溶出过程中, 要求富集在电解床上的待测元素能瞬间溶出.使用一定的 支持电解质可使溶出效 果更好.为了减少金属盐类对原子化器的影响,

0 . 1m o l / LH C l 作为溶出电解质, 效果较好.

3 .

3 富集流速对富集效率的影响 电化学预富集时的溶液流速直接影响到待测离子在石墨床石墨颗粒表面的停留时间, 从而影响了 图1富集流速与 富集效率的关系 F i g .1 R e l a t i o n b e t w e e n p r e c o n c e n t r a t i o n e f f i e n c ya n df l o wr a t eo f p r e c o n c e n t r a t i o n C d 2+ 2m g / L ;

富集量(preconcentrationq u a n t i t y ) :2

0 m L . 电沉积的效率.图 1是在

0 .

1 2 8m m石墨粒径下, 不同流速 的富集效率( η ) ,η=( A-A 0) / A*

1 0

0 %, 其中 A为富集前 的吸收值, A

0 为富集后的流出液的吸收值.从图 1可见, 富 集流速小, 富集效率就高, 流速为 1m L / m i n时, 富集效率达 到94.74%;

而流速较大时, 由于停留时间短, 富集效率急速 下降;

流速为

5 . 5m L / m i n , 富集效率只有

3 2 .

2 %.考虑到富 集时间的影响, 实验采用了

3 . 5m L / m i n的富集流速.

3 .

4 富集电压对富集效率的影响 电化学预富集池所 加的电解电压, 直接影响到电极反 应能否进行, 因而影响到富集效率.实验考察了 0~ 8V富 集电压与富集效率的关 系.电压过低, C d 2+ 未能完全充分 富集;

电压过高, 由于产生氢气增加了电解池的内阻力并形 成了与 C d 2+ 富集的竞争反应, 造成富集效率的下降.当富 集电压大于

5 . 9V时, 副反应的影响大于电压对富集的影响, 此时富集效率急剧下降, 故选

5 . 9V的电 压作为最佳富集电压.

3 .

5 溶出液流速对溶出峰的影响 溶出液流速对于最后测定的灵敏度影响很大.要使富集物质在一个很小的溶液体积下瞬间溶出, 使溶出液中的浓度瞬间达到最大值产生一个最大的峰值响应, 适当的溶出液流速是很重要的, 过小会使 图2溶出电压与 溶出响应值的关系 F i g .

2 R e l a t i o n b e t w e e n r e s p o n s e v a l u e a n d s t r i p p i n gv o l t a g e 溶出峰拖尾, 过大则会有稀释作用.实验发现: 溶出液流速 为4 . 5m L / m i n 时, 响应值最大.