PDF《进口产品公示清单》

进口产品公示清单 序号 设备名称 单位 数量 预算

1 紫外可见分光光度计 台12半导体单晶外延薄膜分析仪 台13飞秒光纤激光器 台14脉冲 Nd:YAG 激光器 台15高莱探测器 台16平衡探测器 台2技术要求及功能描述一览表 序号 设备名称 技术要求及功能描述 备注

1 紫外可见分 光光度计 1.

环境条件:电源电压 220V(±10%),50Hz,15~35℃ 2.应用范围:标准固体测试配置,广泛应用于光学工业,半导体 技术,材料科学以及食品化学等领域.为满足固体的高精度测试 需求,要求积分球作为测试的检测器 3.技术指标:固体样品检测以下指标均必须以积分球作为检测器 验收,不接受直接检测器指标应标 3.1 单色器:高分辨率机刻凹面衍射光栅, Czerny-Turner 单色器, 棱镜-光栅双单色仪 *3.2 需采用高通光量、低偏振、低噪声的棱镜-光栅分光系统 *3.3 平行准直光束非聚焦光束, 要求可以实现高精准的反射与透 射测量 *3.4 光源的光斑可根据需求选配光源掩膜调节成方形,圆形,长 方形,光源光斑可以同时改变参比和样品光路的光斑,保证测试 的准确性,要求能在光源处提供 10mm*8mm 的光源挡光板 *3.5 大样品室光学平台:不小于

680 (W) *

470 (D) * 300(H) mm;

待测样品尺寸不小于 430mm * 430mm;

落地式一体化主机, 无需 实验台,可方便移动(需单独提供厂家或中国区总代理商证明文 件) 3.6:杂散光 0.00008%(NaI,220nm,10g/L,10mm 池) 0.00005%(NaNO2,340nm,10g/L,10mm 池) 3.7 光源:无需调节,氘灯(紫外区域),卤钨灯(可见・近红外 区域) 3.8 光源转换:自动转换波长联动,转换波长可设置范围 325~ 370nm *3.9 Ф60mm 积分球检测器系统,积分球开口率小于等于 7.8%, (需单独提供厂家或中国区总代理商证明文件).含具有自动增 益的光电倍增管 R928(紫外-可见区)与冷 PbS (近红外区), 样品侧入射角 8°,参比侧入射角 0°.提供专业的粉末池用于粉末 样品测试,可实现微量体积的样品反射与吸收测试,同时样品可 以回收. 3.10 设置波长范围:175~3300nm *3.11 光度计范围:Abs:-2~5.0 Abs (正负数据无需改变参比样 品) 3.12 波长显示:0.01nm 步进 3.13 光谱带宽 (a)紫外和可见光区:自动控制,在0.01 到2.4nm 内以 0.01nm 步 进狭缝宽度,在2.4 到8.0nm 内以 0.02nm 步进 (b)近红外区:自动控制,在0.1 到20.0nm 内以 0.1nm 步进 3.14 波长准确性:±0.2nm(紫外/可见区),±1.0nm(近红外区), 自动波长校正 3.15 波长重现性:±0.1nm(紫外/可见区),±0.5nm(近红外区) *3.16 波长扫描速度: 自动控制扫描速度,可见光区:0.3,3,15,30,60,120,300, 600,1200,2400 nm/min;

近红外区: 0.75,7.5,37.5,75,150,300,750,1500, 3000, 6000nm/min 3.17 测光方式:双光束直接比例测光方式(采用微分反馈方式进 行负吸光度或者是 100%以上透过率/反射率的测量) 紫外可见区: 负高压控制方式和狭缝控制方式;

近红外区:狭缝控制方式和固 定狭缝方式. 3.18 检测方式:吸光度(Abs),透过率(%T),反射率(%R) , 参比侧能量(E(R))/样品侧能量(E(S)) 3.19 光度计准确性: ±0.002ABS (0~0.5ABS) , ±0.004ABS (0.5~ 1ABS),±0.3%T NIST SRM

930 检定 3.20 光度计重复性: ±0.001ABS (0~0.5ABS) , ±0.002ABS (0.5~ 1ABS),±0.1%T NIST SRM

930 检定 *3.21 基线记忆:5 通道(系统基线

1 通道,用户基线

4 通道) 3.22 响应:与狭缝宽度、扫描速度波长联动,自动设定最佳值 3.23 噪声水平(0ABS 处):