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1965、SJ 99-1987 SJ/T 3328.1-2015 电子产品用高纯石英砂 第1部分 技术条件 本标准规定了电子工业用高纯石英砂的技术要求、检验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存等. SJ 3228.1-1989 SJ/T 3328.2-2015 电子产品用高纯石英砂 第2部分 分析方法通则 本标准规定了高纯石英砂分析方法的一般要求. SJ 3228.2-1989 SJ/T 3328.4-2015 电子产品用高纯石英砂 第4部分 二氧化硅的测定 本标准规定了高纯石英砂中二氧化硅含量的测定方法. SJ 3228.4-1989 SJ/T 3328.7-2015 电子产品用高纯石英砂 第7部分 铬的测定 本标准规定了高纯石英砂中铬含量的测定方法,包括比色法和石墨炉原子吸收光谱法. SJ 3228.7-1989 SJ/T 3328.8-2015 电子产品用高纯石英砂 第8部分 铝的测定 本标准规定了高纯石英砂中铝含量的测定方法,包括比色法和石墨炉原子吸收光谱法. SJ 3228.8-1989 SJ/T 3328.10-2015 电子产品用高纯石英砂 第10部分 铅的测定 本标准规定了高纯石英砂中铅含量的测定方法,包括比色法和石墨炉原子吸收光谱法. SJ 3228.10-1989 SJ/T 3328.5-2015 电子产品用高纯石英砂 第5部分 铁的测定 本标准规定了高纯石英砂中铁含量的测定方法,包括比色法和石墨炉原子吸收光谱法. SJ 3228.5-1989 SJ/T 3328.6-2015 电子产品用高纯石英砂 第6部分 铜的测定 本标准规定了高纯石英砂中铜含量的测定方法,包括比色法和石墨炉原子吸收光谱法. SJ 3228.6-1989 SJ/T 3328.3-2015 电子产品用高纯石英砂 第3部分 灼烧失量的测定 本标准规定了高纯石英砂灼烧失量的测定方法. SJ 3228.3-1989 SJ/T 11583-2015 电子陶瓷及其封接气密性测试方法 本标准规定了电子陶瓷材料、已金属化的待封接电子陶瓷或已封接的电真空陶瓷管制品的封接气密性测试原理、测试装置以及测试步骤等内容. SJ/T 3326-2015 陶瓷-金属封接抗拉强度测试方法 本标准规定了陶瓷-金属封接抗拉强度的测试方法. SJ/T 3326-2001 SJ/T 10309-2015 印制板用阻焊剂 本标准规定了印制板用阻焊剂的性能要求、试验方法、检验规则及包装、运输和贮存等.适用于印制板用流体型的阻焊剂,但不包括可剥性阻焊剂(可剥胶). SJ/T 10309-1992 SJ/T 11171-2015 单、双面碳膜印制板分规范 本标准规定了单、双面碳膜印制板的性能要求、质量保证规定和交付要求等.本标准适用于刚性单、双面有(无)镀覆孔印制板和碳膜贯孔印制板. SJ/T 11171-1998 SJ/T 11584-2015 锡球规范 本标准规定了锡球的要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和储存等. SJ/T 10329-2015 印制板返修和返工 本标准规定了印制板返修和返工的要求、步骤和方法等. SJ/T 10329-1992 SJ/T 11585-2015 串行存储器接口要求 本标准规定了规定了串行与非型快闪存储器(SPI NAND Flash)的物理接口、结构、指令定义、串行快闪存储器接口(SFI)参数说明等. SJ/T 11586-2015 半导体器件 10keV低能X射线总剂量辐射试验方法 本标准规定了使用 X 射线辐射仪(光子平均能量约 10keV,最大光子能量不超过100keV)对半导体器件和电路进行电离辐射效应试验的方法和程序.适用于半导体器件的总剂量电离辐照评估试验. SJ/T 11587-2015 电子产品防静电包装技术要求 本标准规定了电子产品防静电包装的技术要求、测试方法和使用要求.本标准适用于静电敏感产品在生产、储存、运输周转和使用过程中所涉及的防静电包装.本标准不适用于电磁干扰/射频干扰/电磁脉冲环境中使用的包装,也不适用于燃烧爆炸危险环境中使用的包装. SJ/T 11588-2015 BDS/GPS射频与基带一体化模块性能要求与测试方法 本标准规定了BDS/GPS射频与基带一体化模块的性能要求和测试方法.适用于具有定位、授时和短报文通信功能的BDS/GPS射频与基带一体化模块(包括RNSS模块和RDSS模块)的设计、研制、生产和检测. SJ/T 11589-2015 雷达用电站方舱通用规范 标准规定了雷达用电站方舱的通用技术要求、测试方法、质量评定程序、包装、运输和贮存等内容. SJ/T 11199-2015 压电石英晶体片 本标准规定了压电石英晶体片的术语和定义、要求、试验方法、检验规则、包装、标志、运输和贮存. SJ/T 11199-1999 SJ/T 10709-2015 压电陶瓷电声元件总规范 本标准规定了压电陶瓷电声元件的术语和定义、分类、优先额定值和特性、要求、检验方法、检验规则、标志、包装、运输和储存等 SJ/T 10709-1996 SJ/T 11461.2-2015 有机发光二极管显示器 第2部分:基本额定值和特性 本部分规定了有机发光二极管显示模块的基本额定值和特性. SJ/T 11461.3-2015 有机发光二极管显示器 第3部分:显示屏分规范 本部分适用于有机发光二极管显示屏,它给出了评定有机发光二极管显示屏所需的质量评定程序、检验要求、筛选序列、抽样要求、试验和测试方法的细节. SJ/T 11461.4-2015 有机发光二极管显示器件 第4部分:显示模块分规范 本部分规定了有机发光二极管显示模块所需的质量评定程序、检验要求、筛选序列、抽样要求、试验和测试方法的细节. SJ/T 11590-2015 LED显示屏图像主观质量评价方法 本标准规定了LED显示屏图像质量主观评价方法.本标准适用于由计算机播控的以显示视频图像、动画、图片内容为主的室内外全彩色LED显示屏图像质量的主观评价.本标准不适用于可变信息标志、城市交通诱导标志、银行及证券行情等以文字信息显示为主的LED显示屏. SJ/T 11591.1.1-2015 立体显示器件 第1-1部分:总规范 本标准规定了立体显示器件的分类、技术要求、质量评定程序、检验和试验方法,以及标志、包装、运输和储存等.本标准适用于立体显示器件. SJ/T 11591.1.2-2015 立体显示器件 第1-2部分:术语和定义 本标准界定了立体显示器件的术语和定义.本标准适用于立体显示器件. SJ/T 11591.4.1.1-2015 立体显示器件 第4-1-1部分:眼镜式立体显示器件测量方法-光学和光电 本标准规定了采用眼镜作为辅助设备的眼镜式立体显示器件的光学和光电参测量方法.本标准适用于眼镜式立体显示器件,可作为产品设计、开发、生产中评定其光学和光电参数的方法和依据.用于立体显示器件的圆偏振眼镜和快门眼镜的测量方法见附录A和附录B. SJ/T 11461.5.3-2015 有机发光二极管显示器件 第5-3部分:残像和寿命的测试方法 本标准规定了OLED产品残像试验方法和寿命测试方法.标准的范围为OLED显示器的屏体和模组.残像试验方法充分考虑了不同应用情况的显示器的异同点,对残像的测试图形,以及残像最终的表示方法都有明确和科学的规定.寿命测试方法主要针对亮度衰减进行了相关规定,同时还通过附录的形式采用了加速衰减的方式并可通过公式去推算显示器的寿命. IDT IEC 62341-5-3:2013 SJ/T 31001-2015 设备完好要求和检查评定方法编写导则 规定了企业在制定设备完好标准应遵循的原则和完好设备的基本要求 SJ/T 31001-1994 SJ/T 31389-2015 高温试验设备完好要求和检查评定方法 规定了高温试验设备的完好要求和检查评定方法 SJ/T 31389-1994 SJ/T 31448-2015 供水管道完好要求和检查评定方法 规定了供水(给水)及回水管道的完好要求和检查评定方法 SJ/T 31448-1994 SJ/T 31449-2015 供油管道完好要求和检查评定方法 规定了供油管道完好要求和检查评定方法 SJ/T 31449-1994 SJ/T 31128-2015 近红外厚膜烧结炉完好要求和检查评定方法 规定了近红外厚膜烧结炉完好要求和检查评定方法 SJ/T 31128-1994 SJ/T 31446-2015 煤气管道完好要求和检查评定方法 规定了煤气(含天然气)管道完好要求和检查评定方法 SJ/T 31446-1994 SJ/T 31445-2015 热力管道完好要求和检查评定方法 规定了热力管道完好要求和检查评定方法 SJ/T 314........