DOC《冷热冲击试验箱（三箱式）》

冷热冲击试验箱(三箱式) 型号 WDCJ-50S WDCJ-80S WDCJ-108S WDCJ-216S 工作室尺寸D*W*H(mm) 350*350*400 500*400*400 600*400*450 600*600*600 外形尺寸D*W*H(mm) 1580*1950*1380 1700*2000*1480 1800*2000*1530 1850*2250*1820 性能 指标 温度范围 A:-20℃~+200℃ B:-40℃~+200℃ C:-70℃~+200℃ 高温区温度上限 200℃ 冲击温度 A:-15℃~+180℃ ? ?B:-35℃~+180℃ ? ?C:-65℃~+180℃ 温度波动 高温室及低温室均≤±2℃(恒温时) 样品区温度波动 ≤±0.

5℃(恒温时) 样品区承重 30Kg 50Kg 60Kg 80Kg 温度 控制 系统 控制器 日本进口UMC-1300真彩触摸平 数量(P、I、D、S、S、R) 微电脑集成控制器 精度范围 设定精度:温度±0.1℃,指示精度:温度±0.1℃,解析度:±0.1℃ 制冷范围 进口德国谷轮半封闭水冷式压缩机组/原装法国"泰康"/全封闭 风冷复叠压缩制冷方式 循环系统 耐温低噪音空调型电机,多叶式离心风轮 风向栅门机构切换时间 ≤10s 温度恢复时间 ≤5min(与温度恢复条件有关,即冷却水温、暴露温差、样品重量有关) 温度冲击方法 蓄冷蓄热三箱法(样品静止) 本试验设备主要用于产品按照国家标准要求或用户定义要求,在低温、高温条件下对产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试,通过检测来判断产品的性能,是否仍然能够符合预定要求,以便于产品设计、改进、鉴定及出厂检验. 产品介绍: 设备用途: 该产品适用于电子元器件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制. 设备结构:

1、设备主要由箱体、制冷系统、加热系统、空气循环系统以及控制系统组成.

2、试验箱体设计完美,采用数控机床加工成型,并采用无反作用把手,操作容易.

3、整个箱体分为上、中、下三个区分别为高温区、测试区、低温区冲击试验时自动打开高温区与低温区的风阀从而达到高温与低温的冲击试验,箱门密封采用精制硅橡胶,从而在高、低温下不存在老化及硬化现象.

4、内胆为进口SUS304不锈钢板,外壳为A3板喷塑处理,更显光洁、美观.

5、保温系统采用超细玻璃纤维或硬质聚胺脂发泡填充保温区,以保证箱体内部温度.

6、温度控制采用进口仪表,具有P.I.D自动演算功能,人性化设计的操作方法,易学易用.

7、独立的加温与制冷系统使设备更有效的提高升温、降温速率.

8、进口欧美压缩机+环保冷媒,板式冷热交换器与二元式超低温冷冻系统具有RS-232或RS-485通讯接口与连机软件,可连接电脑远程控制,使用便携,制冷系统为全自动控制与安全保护协调系统.

9、采用多翼式强力送风循环,避免任何死角,可使测试区域内温度分布均匀.

10、测试样品置于样品架,高精度气动系统驱动蓄热区或蓄冷区之阀门,引导气流循环,以达到冷热测试的温度均匀性.

11、空气循环出风回风设计,风压风速均符合测试标准,并可使开门瞬间温度回温时间快.

12、测试区内附上下可调不锈钢盘两组.

13、机台底部加装高承载滑轮,以便移动设备.

14、可耐寒耐热之高张性双层密封条. 设备符合标准: IEC68-2-14试验方法_温度变化;

? ?GB/T2423.13-

2002、GJB150.3-

86、 GJB150.4-86;

? ?GJB150.5-86温度冲击试验标准,并等效满足相应的国标、军标. ? ?GB/T2423.1-2001低温试验方法;