编辑: 麒麟兔爷 | 2018-12-23 |
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) ( $$ 年!月 ( 日收到;
$$ 年(月 '
日收到修改稿) 用透射电子显微镜 ()*+) 和,射线衍射 (-.
/) 方法对经 0$$1,
2 退火的
34 和56 自由膜和
78 基体上的
34 和56 附着膜的异常晶粒生长和织构变化进行了实验研究9 -./ 分析表明:
34 和56 沉积膜均有 (!!!) 和(!$$) 择优取 向9 但经退火处理后,
34 和56 自由膜的 (!!!) 织构稍有加强9相反,
78 基体上的
34 和56 附着膜的 (!$$) 和(!!$) 织构 明显加强, 同时用 )*+ 在56 附着膜中观察到了两个 (!!$) 和四个 ( !!) 取向的异常大晶粒9 根据表面能和应变能的 各向异性对实验结果进行了分析9 关键词:薄膜,晶粒生长, 织构,实验 %!!&
, %!($5 ! 国家自然科学基金重点项目 (批准号: ('
'
0!$!$) 和国家自然科学基金 (批准号: ($ #!$0:) 资助的课题 ;
!;
引言对附着在单晶基体上的薄膜特别是柱状晶薄 膜, 当晶粒在膜平面内的线度等于或大于膜厚时, 除 晶界能外, 各向异性的表面能、 膜<
基界面能和应变 能对薄膜中的异常晶粒生长也能提供附加的驱动 力9对面心立方金属薄膜, 其密排面 (!!!) 对应的表 面能最小9因而从表面能考虑, 面心立方金属膜的择 优取向或织构应为 (!!!) 9这已在 36, 3=, 34,
56 等膜 中得到证实 [!―&
]
9 前文计算了面心立方金属膜中不 同取向晶粒的应变能密度, 结果表明: 在屈服之前, 五个较小的应变能密度对应的晶粒取向依次为 (!$$) , ((!$) , (&
!$) , ((!!) 和(0!$) ;
在屈服膜中, 五 个较小的应变能密度对应的晶粒取向依次为 (!!$) , (!$$) , ((!!) , (&
!!) 和( !!) [(]
9 因此, 从应变能角度 考虑, 附着在基体上的面心立方金属膜退火后的择 优取向或织构应依次为 (!$$) , ((!$) , (&
!$) , ((!!) 和(0!$) 或(!!$) , (!$$) , ((!!) , (&
!!) 和( !!) (取决 于膜的变形程度)
9 这一结论已有初步的实验证明9 例如, >
2?8 等人在
78 基体上沉积
56 膜时发现, 当用 低能粒子轰击时
56 膜的择优取向为 (!$$) 和(!!!) , 但经退火处理后, 起初的 (!!!) 取向几乎全部转变为 (!$$) 取向, 且形成了直径约为 !$$ ! ? 的异常大晶 粒[%] 9)@ABC 等人曾采用各种不同方法沉积
56 膜, 并 对膜的织构进行了深入研究, 结果发现, 主要的择优 取向为 (!$$) , (!!$) , (!!!) 和((!!) [#]
9 DEF4GE@H2 等 人对分别用 +F, +F 和5@, 34,
34 和5@,
56 和I合金化的 3= 膜退火处理后也发现, 膜的织构从起初的 (!!!) 转变为 (!!$) 和( !!) [:]
9 为了进一步证明应变 能的计算结果, 本文用透射电子显微镜 ()*+) 和,射线衍射 (-./) 方法对经 0$$1退火的
34 和56 自 由膜和
78 基体上的
34 和56 附着膜中的异常晶粒 生长和织构变化进行了实验研究9 ;
实验采用磁控溅射方法在 (!!!) 取向的单晶
78 片上 分别沉积厚度约为 ! ? 的34 和56 膜9用-./ 分析 沉积膜的择优取向 (或织构) 9然后将试样分为两组: 一组将
34 和56 膜从
78 基体上剥离下来得到
34 和56 自由膜, 另一组
34 和56 膜仍附着在
78 基体上9 最后把所有试样放入石英真空退火炉内, 将退火炉 抽至 # J !$K