DOC《测试项目》

测试项目 测试项目 测试仪器及型号 测试范围 样品要求 结构分析 X射线衍射仪 (Bruker D8 Advance) 1.

无机材料物相定性分析 2.无机材料物相半定量分析 粉状、块状、薄膜 1)粉末样品量不少于0.5g;

2)块状样品要有一个面积不小于1.0cm * 1.0cm 的近似平面;

3)薄膜样品要有一定的厚度,面积不小于1.0cm * 1.0cm 场发射扫描电子显微镜 (JEOL JSM-6700F) 1.形貌分析 2.EDS微区化学成分分析 放大倍数:25*~650,000* 粉状、块状 场发射扫描电子显微镜 (SU-8010) 1.形貌分析 放大倍数:20*―800,000*(二次电子像) 2.微区化学成分分析,元素分析范围:Be―U 粉状、块状 KYKY扫描电子显微镜 (KYKY-EM3900M) 1.形貌分析 放大倍数:8*~25,0000* 粉状、块状 块状样品体积不宜太大(≤ 5*5*2mm较适合) 透射电子显微镜 (JEOL JEM-2010) 1.粉体形貌分析 2.高分辨晶格像分析 3.薄膜样形貌分析 4.电子衍射分析 放大倍数:50*―1,500,000* 粉状、薄膜、块状 原子力显微镜 (Dimension Icon) 1.样品表面形貌分析 2.数据种类:表面粗糙度Ra、Rq值等 块状 直径