PDF《附录H都是标准的附录》

A - 一一 波长, mm;

. 一 探伤灵敏度当 量直径, m m b ) 对于空心圆柱形锻件, 当声程大于3 倍近场时, 所需增加的 d B值应按式( (

2 ) 计算: d B 一2018nv、 l o l g D d ・ '

'

.… '

二'

・ ・ ・ ・ … … (2 ) 式中: D ― 工件外径, m m;

d 一 一工件内径, m m. , + -一 内孔探测, 凹面反射 ;

一 一工件外圆径向探测, 凸面反射 其余符号与5 .

8 .

2 .

5 a ) 相同.

5 .

8 .

3 锻件可探性的测定 当探伤灵敏度确定之后, 以探伤灵敏度为基准, 信噪比大于或等于6 d B , 则认为该锻件具有足够的 可探性, 否则由供需双方协商处理

5 .

8 .

4 材质衰减系数的测定

5 .

8 .

4 .

1 当声程大于

3 倍近场时, 在锻件无缺陷区域内, 至少选取三处具有代表性的部位测出 B , / 凡之dB差值, 即第一次底波高度 B 、 与第二次底波高度 B : 之间的d B差值.材质衰减系数a ( d B / m m) 按式(

3 ) 计算: ( B , / B

2 ) 一6 a = - -

2 S 一一- 式中: S一 声程, m m.

5 .

8 .

4 .

2 当材质衰减系数a 超过 . .

0 0

4 d B / m m时, 必须对探伤结果给予修正.

5 .

8 .

5 远场区声束直径的计算 石d B声束直径的计算应按式(

4 ) : '

'

二( 3) ・・ … (4) 式中: T-一晶片直径, m m ;

d

6 一一6 d B声束直径, m m 其余符号与5 .

8 .

2 .

5 a ) 相同

5 .

8 .

6 缺陷当量大小的确定

5 .

8 .

6 .

1 AVG法定量 当声程大于3 倍近场时, 缺陷当量直径的大小应按式(

5 ) 计算 塑执&

1 B一201g十2a(z'

一S)一(5) J B / T

5 0

0 0 .

1 5 -

1 9

9 8 式中: a - 一 材质衰减系数, d B / m m ;

s r - 缺陷深度, m m;

o r 一 缺陷当量直径, n l m ;

B , / B 缺陷回波与底波的 d B差,dB,其余符号与5 .

8 .

2 .

5 a ) 相同

58 ,

62 试块法定量 a )当声程大于

3 倍近场时, 缺陷当量直径的大小应按式(

6 ) 计算 , 巾r s ,. . . 一任Vlg又e s ~ 十L}一'

a,x, . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

1 b) 4气刁f 式中:

4 一一缺陷与试块平底孔之 d B差值, d B ;

z - - 一 平底孔深度, m m;

a 一 一材质衰减系数( 对比 试块) , d B / m m;

a , ― 缺陷处材质衰减系数, d B / mm 其余符号与

5 .

8 .

6 .

1 相同. b )当声程小于3 倍近场时, 应用试块直接比较或用实测的 A V G曲线来定缺陷当量直径的大小.

5 .

9 缺陷的分类

5 .

9 .

1 单个缺陷 问距大于

5 0 m m, 当量直径不小于起始记录当量的缺陷.

5 .

9 .

2 分散缺陷 缺陷间距小于或等于5

0 m m, 同时存在

2 个或

2 个以上且5个以下. 当量直径不小于起始记录当量 的缺陷.

5 .

9 .

3 密集区缺陷 按3.1.5.9.4游动信号 随探头在锻件表面某一方向移动时, 其信号前沿连续移动

2 5 m m以上深度的缺陷信号

5 .

9 .

5 延伸性缺陷 缺陷连续回波高度至少在一个方向上不得低于起始记录当量值, 其延伸长度应大于缺陷容许的最 大当量直径.延伸性缺陷的延伸尺寸采用半波高度法测定( (

6 d B法) .在测定延伸尺寸时应考虑探头 的声域特性进行修正.

5 .

9 .

6 缺陷引起的底波降低量 B G / B F ( d B ) 按3.2.5.10缺陷的记录

5 .

1 0 .

1 记录当量直径不小于起始记录当量的缺陷及其在锻件上的坐标位置.