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3 所示).套用低密度同位检查 (LDPC) 演算法 以复原毁损的文字(1kB 区块).慧荣也导入 Page RAID 演算法,能够复原包含毁损资料的完整 16kB 分页.这些 技术共同确保 NAND Flash 阵列的整个额定生命周期中读 取/写入作业的完整性,且无位元错误. 降低热应力的影响 资料留存是汽车制造商的关键效能参数:它测量了资 料位元在写入至单元后将保留的期间.如图

4 中的表格 所示,此期间极度取决於温度.这也显示 MLC NAND 类型中的资料留存明显比 SLC NAND 更短. 图3:适用於延伸 ECC 作业的 LDPC 和Page RAID 错误修正配置 图4:NAND Flash 中的资料留存会受到操作温度、程式/抹除 (PE) 循环 次数及 NAND 类型影响 高效率 未来 目前 无法修正的 ECC 错误 硬式解码 Group Page RAID 位移读取 (读取重试表) 硬式解码 位移读取 (读取重试表) 软式解码 (反覆解码) BCH 或RS LDPC 第一代的防护 新一代的防护 Code-word(1KB)recovery Page(16KB)recovery 更强大的修正能力 75.58 Mo

12 Mo 2.14 Mo 温度 SLC 的最大 PE MLC 的最大 PE

40 12 Mo

55 1.88 Mo

70 0.34 Mo

85 0.45 Mo 0.07 Mo -5- Ferri 系列产品中导入的技术会以智慧方式扫描区块和单 元,以及重新整理有资料遗失风险的部分,藉此防资 料留存故障.这项 Intelligent Scan 与DataRefresh 功 能利用每个源自 ECC 作业之区块的位元错误率资料:在 使用者可选择的位元错误率阈值,会执行 Data Refresh (请参阅图 5).如图

4 所示,在升高的操作温度中, 资料留存持续时间会急遽地减短.慧荣的 Intelligent Scan 与DataRefresh 功能会自动增加较高操作温度中的扫描频 率. Intelligent Scan 与DataRefresh 也能预防因读取干扰 而导致的资料遗失. 适用於大量资料储存的嵌入式主机板等级解决方案 如本文所述,透过烧机测试、进阶正向错误校正和资 料重新整理功能的应用,可大幅提升 SSD 或eMMC 的可靠性和资料完整性.透过下列作法,慧荣在其通 过AEC-Q100 认证的 Ferri 系列产品中满足汽车产业 毫不妥协的需求: .在出货前对每个单元、分页和区块的 100% 筛选以 及全面品质控管,产生极低 dppm 率 .采用 NANDXtend ECC 技术的端对端资料保护可延 长运作生命周期 .适用於进阶资料留存的 IntelligentScan 与DataRefresh 目前推出的 Ferri 系列产品为: .FerriSSD,20 公厘 x

16 公厘 BGA 封装,密度最高 可达 256GB .Ferri-eMMC,提供各种体积小巧的 BGA 封装,符合JEDEC 工业标准,密度最高可达 128GB Ferri 系列储存解决方案尤其能因应汽车市场的需求,结 合长期的可靠运作、资料完整性和资料留存,确保固态记 忆体符合车辆中任何其他电子系统的品质和可靠性. 图5:Data Refresh 会使每个区块的位元错误率回到零 www.siliconmotion.com ? Copyright

2017 Silicon Motion, Inc. 如需有关 FerriSSD? 模组的详细资讯,请前往 www.siliconmotion.com,或传送电子邮件至 [email protected] 基於 1Ynm MLC, @ 1,000 PE 可修正的最大 ECC 预设/可程式化临界值 85℃ 资料保留模拟 DataRefresh 错误位元 月50

45 40

35 30

25 20

15 10

5 0

0 3

6 9

12 15

18 21

24 27

30 33

36 39

42 45

48 51

54 57

60 63

66 69

72 75

78 81

84 87

90 93

96 99

102 105

108 111

114 117 120 ........