PDF《内置温度传感器的24-bit 电容数字转换器》

17 配置寄存器.18 Cap DAC A寄存器.19 Cap DAC B寄存器.19 Cap失调校准寄存器.20 Cap增益校准寄存器.20 Volt增益校准寄存器.20 电路描述.21 概览.21 电容数字转换器.21 有源交流屏蔽概念.21 CAPDAC.21 单端容性配置

22 差分容性配置

22 寄生电容

23 寄生电阻

23 寄生串联电阻

23 容性增益校准

23 容性系统失调校准.24 内部温度传感器.24 外部温度传感器.24 电压输入

25 VDD 监控

25 典型应用原理图.26 外形尺寸.27 订购指南

27 修订历史 2007年1月―修订版0:初始版 Rev.

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28 技术规格 除非另有说明,VDD = 2.7 V至3.6 V或4.75 V至5.25 V;

GND =

0 V;

EXC = ±VDD * 3/8;

?40°C至+125°C. 表1. 参数 测试条件/注释 最小值 典型值 最大值 单位 容性输入 转换输入范围 ±8.192 pF1 出厂校准 积分非线性(INL)2 ±0.01 % of FSR1 无失码2 峰峰值分辨率 有效分辨率 输出噪声均方根值 16.5 Bit 转换时间为124 ms,见表5 Bit 转换时间 ≥

124 ms 19.1 Bit 转换时间为124 ms,见表5 aF/√Hz 转换时间为124 ms,见表5 绝对误差3 F f

0 1 ±

1 25°C,VDD =

5 V,失调校准后 失调误差4,

5 F a

2 3

1 系统失调校准后, 不包括噪声影响4 系统失调校准范围5 ±1 pF 整个温度范围内的失调偏差2 0.4 fF 见图6 增益误差6 S F f o %

1 1 .

0 2

0 .

0 1 25°C, VDD =

5 V 增益漂移与温度2 ?23 ?26 ?29 ppm of FS/°C 电源抑制2 0.5

4 fF/V 串模干扰抑制5

72 dB

50 Hz ± 1%,转换时间为124 ms

60 Hz ± 1%,转换时间为124 ms B d

0 6 C A D P A C C A D P A C t i b -

6 F p

1 2

7 1

24 整个范围 微分非线性(DNL) 0.3 LSB 见图16 漂移与温度2

26 ppm of FS/°C 激励 z H k

6 1 频率 电容上的交流电压 ±VDD * 3/8 V 通过数字接口配置 电容上的平均直流电压 VDD/2 V 温度传感器7 VREF 内部 C °

1 .

0 分辨率 误差2 内部温度传感器 C °

2 ±

5 .

0 ± 外部检测二极管8 C °

2 ± 电压输入7 VREF 内部或VREF = 2.5 V 差分VIN电压范围 ±VREF V 绝对VIN电压2 GND ? 0.03 VDD + 0.03 V 积分非线性(INL) ±3 ±15 ppm of FS 无失码2

24 Bit 转换时间 = 122.1 ms s t i B

6 1 峰峰值分辨率 转换时间 =

62 ms, 见表6和表7 s m r V ?

3 输出噪声 转换时间 =

62 ms, 见表6和表7 V ?

3 ± 失调误差 失调漂移与温度

15 nV/°C 满量程误差2,9 S F f o %

1 .

0 5

2 0 .

0 满量程漂移与温度

5 ppm of FS/°C 内部基准电压源 外部基准电压源 C ° / S F f o m p p

5 .

0 平均VIN输入电流

300 nA/V 模拟VIN输入电流漂移 ±50 pA/V/°C 电源抑制

80 dB 内部基准电压源,VIN = VREF /2 外部基准电压源,VIN = VREF /2 B d

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28 串模干扰抑制5

75 dB

60 Hz ± 1%,转换........