编辑: 元素吧里的召唤 2016-01-06

2 Fehler müssen gleichzeitig auftreten um einen Sicherheitsverlust zu verursachen Mindestens

3 Fehler müssen gleichzeitig auftreten um einen Sicherheitsverlust zu verursachen Kategorie B/Kategorie

1 Input Logik Output Eingangs- signal Ausgangs- signal Kategorie

2 Testsignal Triggersignal ?berwachung ?berwachung Ausgang der Test- einheit Zweiter Abschaltweg oder Anzeige Test- einheit Kategorie

3 Input Logik Output Eingangs- signal Ausgangs- signal Testssignal ?berwachung Input Logik Output Eingangs- signal ?berwachung Kategorie

4 Input Logik Output Eingangs- signal Ausgangs- signal Input Logik Output Eingangs- signal Ausgangs- signal Testsignal ?berwachung Input Logik Output Eingangs- signal ?berwachung Ausgangs- signal Ausgangs- signal HFT Bestimmung der Hardware-Fehlertoleranz www.festo.com

56316 de 2010/05 Bewertung Niedrig Mittel Hoch Quelle: DIN EN ISO 13849-1 Kapitel 4.5.2 MTTFd

3 Jahre ≤ MTTFd .

10 Jahre

10 Jahre ≤ MTTFd .

30 Jahre

30 Jahre ≤ MTTFd .

100 Jahre Applikationsdaten Lebensdauerkennwerte der Einzelkomponenten (aus den Datenbl?ttern) B10d B10d MTTFd

1 ______ MTTFd = N i=1

1 ____ MTTFd MTTFd MTTFd MTTFd,i MTTF d = B10d _______ 0,1 . nop nop = dop . hop .

3600 s/h tcycle Formel zur Ermittlung des MTTFd-Wertes für ein mechanisches Element in einem Kanal Mittlere Anzahl j?hrlicher Bet?tigungen nop für das mechanische Element Berechnung gesamt MTTFd bei mehreren parallelen Kan?len Applikationsdaten Lebensdauerkennwerte der Einzelkomponenten (aus den Datenbl?ttern) B10d B10d MTBF MTBF MTTFd MTTFd MTTF d =

1

2 _

3 MTTF dC1 + MTTF dC2 C

1 ______ MTTFdC1 +

1 ______ MTTFdC2 Eingang Eingangssignal Logik Ausgang Steuersignal Antrieb Steuersignal Niedrigster PL PLniedrig Anzahl der niedrigsten PL Nniedrig Gesamtsystem PL a b c d e ,3 ≤3 ,2 ≤2 ,3 ≤3 ,3 ≤3 ,3 ≤3 nicht erlaubt a a b b c c d d e vom Hersteller bekannt gegeben vom Anlagenbetreiber zu ermitteln High Demand Mode Low Demand Mode Ausfallart Erkannt Unerkannt FME(D)A safe ?S dangerous ?D safe detected ?SD dangerous detected ?DD safe undetected ?SU dangerous undetected ?DU DC = ______ ?DD ?D Ausfallart Erkannt Unerkannt FME(D)A safe ?S dangerous ?D safe detected ?SD dangerous detected ?DD safe undetected ?SU dangerous undetected ?DU Ausfallart Erkannt Unerkannt FME(D)A safe ?S dangerous ?D safe detected ?SD dangerous detected ?DD safe undetected ?SU dangerous undetected ?DU Applikationsdaten Lebensdauerkennwerte der Einzelkomponenten (aus den Datenbl?ttern) B10d B10d MTBF MTBF MTTFd MTTFd PFD =

1 _

2 ?DU .Tp ?DU = ?D . (1-DC) ? SFF (Safe Failure Fraction) Anteil Sicherer Fehler an der Gesamtfehleranzahl ? HFT (Hardware Failure Tolerance) F?higkeit eine geforderte Funktion bei Fehlern und Abweichungen weiter auszuführen ? PFH (Probability of failure per hour) Versagenwahrscheinlichkeit einer Sicherheitsfunktion bei kontinuierlicher Nutzung ? MTBF (Mean Time between Failure) Mittlere Zeit zwischen zwei aufeinanderfolgenden Fehlern ? PFD (Probability of Failure on Demand) Versagenswahrscheinlichkeit einer Sicherheitsfunktion bei niedriger Anforderungsrate ? Tp (Proof test interval) Prüfintervall ? SIL (Safety Integrity Level) Vier diskrete Stufen (SIL1 bis SIL4). Je h?her der SIL eines sicherheitsbezogenen Systems, desto geringer die Wahrscheinlichkeit , dass das System die geforderten Sicherheitsfunktionen nicht ausführen kann. ? MTTFd (Mean Time to Failure) Mittlere Zeit bis zu einem gefahrbringenden Fehler ? MTTR (Mean Time to Restoration) Mittlere Reparaturzeit DC ≤ SFF ≤

1 für ?S =

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