PDF《CS2935 半导体分立器件》

11 7.1.4 测试结果(数据)处理 测试结果处理包括清除结果和保存结果.选择菜单中 清除结果 或 单击工具栏上 图标,结果显示区域的数据都将被清除. 如果要保存数据, Ctrl+C 直接复制到 Word 文件中即可. 7.1.5 对库中没有的晶体管要按照手册进行填写测试条件,具体过程参看 8050.dat 中的 条件设置 . 7.1.6 保存测试条件 选择菜单中 保存条件 或单击工具栏上 图标. 7.1.7PNP 测试条件(9012)的测试条件如下:

12 注:PNP 型晶体管条件设置对话框中合格范围项均为绝对值. 对于未知测试条件的晶体管可以用库中 NPN.dat 、 PNP.dat 进行基本测 试.在基本测试的基础上修改测试条件可达到用户测试目的. 7.2 MOS 管的测试操作(以IRF640 为例) 7.2.1 根据 IRF640 的封装选择相应的适配器. 适配器安装完毕后开机并启 动测试软件. 7.2.2 设置测试条件: 选择菜单中 调入条件 或单击工具栏上 图标, 打开 库 文件夹,从中选择 IRF640.dat 并打开.如果要详细查看测试条 件或修改测试条件,可以选择菜单中 条件设置 或单击工具栏上 图标会 弹出 条件设置 对话框,如下图:

13 对话框分成四个区域,在最上面是显示器件名称(IRF640)和类型(N 沟道) .下面的三个区域从左到右分别是 参数选择 、 合格范围 、 测试条件 . ・ 参数选择 区域可以通过点击各个复选框,选择是否对该参数进行测试. ・ 合格范围 区域可以填写测试参数的合格范围,最小限定或最大限定值. ・ 测试条件 区域可以填写测试参数的施加电压值、电流值.以上的合格 范围以及测试条件都需要根据被测试器件的手册进行填写和修........