PDF《可互换仪器程控命令封装库设计与实现》

第15 卷第1期太赫兹科学与电子信息学报 Vo1.

15, No.

1 2017 年2月Journal of Terahertz Science and Electronic Information Technology Feb. ,

2017 文章编号:2095-4980(2017)01-0110-05 可互换仪器程控命令封装库设计与实现 陈鑫友,郭海帆,陈建华,王强,蒋波(中国电子科技集团公司 第29 研究所,四川 成都 610036) 摘要:为实现自动测试系统中仪器的可互换,运用通用模块构建(CBB)思路,通过动态链接 库(DLL)技术,设计与实现了可互换仪器程控命令封装库.该封装库具有品质高,通用性、实用性 和可扩展性强等特点,不用修改自动测试程序而实现不同仪器之间的互换,实现了自动测试程序 和仪器驱动完全分离,有利于自动测试系统的升级和移植,极大提高了自动测试系统的开发效率. 关键词:仪器封装库;

自动测试;

动态链接库;

互换性 中图分类号: TN307;

TP216 文献标志码: A doi: 10.11805/TKYDA201701.0110 Design and implementation of interchangeable instrument driver CHEN Xinyou,GUO Haifan,CHEN Jianhua,WANG Qiang,JIANG Bo (Southwest China Research Institute of Electronic Equipment,Chengdu Sichuan 610036,China) Abstract:For the realization of the automatic test system of interchangeable instrument, using the Common Building Block(CBB) models, through Dynamic Link Library(DLL) technology, the interchangeable instrument command package library is designed and implemented. The package library bears the characteristics of high-quality, versatility, practicality and scalability and so on. It can achieve the interchanging between different instruments without modifying the automatic test program, and can separate the automated testing procedures from the instrument drivers completely. It is beneficial to the upgrade and migration of automatic testing system, and improves its development efficiency greatly. Keywords:instrument driver;

automated test;

Dynamic Link Library;

interchangeable 目前,自动测试系统已广泛应用于国内各个行业科研生产的多个领域,如模块单元的调试与测试,整机设备 信号的产生、测量和分析等,都掺杂着自动测试系统,而自动测试系统硬件的搭建大都借助各类通用仪器.因此, 在自动测试系统中,通用仪器的程控技术是其中一个重要分支,如何提高仪器程控编程效率,减少重复性劳动, 节约测试时间,保证编程质量,是一个迫切需要解决的问题.针对这一问题,运用 CBB 共用构建模块思路,设 计与实现了一种可互换仪器程控命令封装库.相对于以前单纯利用特定测试仪器,极大地拓展了自动测试系统的 应用仪器的可选范围,增加了自动测试系统软件编程的灵活性,降低了整个测试系统的组建、开发和维护成本, 工作效率也得到很大提高[1] .

1 现状及措施 在设计、组建基于仪器总线:GPIB(General Purpose Interface Bus), LAN(Local Area Network)和USB 等的自 动测试系统时,仪器的编程是系统开发过程中最费时费力的部分[2] .这是因为:a) 通用仪器可能由多个仪器制 造商提供,各制造商之间的仪器程控命令不尽相同,同一个制造商仪器不同型号的仪器程控命令也不尽相同.而且,现在各大仪器制造商还在不断推陈出新,每年都有多款新产品上市.这就要求当涉及到仪器程控时,开发自 动测试系统的设计人员,需要学习集成到系统中不同仪器的编程手册,并根据系统的需要逐条加以验证调试,占 据了大量的时间和精力;