PDF《PXI 量测解决方案》

奈安) 量 测时是一项很重要的技术.护卫输出可以避免漏 电流的问题,并降低量测稳定时间,此输出可保持 与主输出 (Force) 为同电位 ,如此在护卫输出与主 输出间不会有电流产生.护卫输出同时也消除了电 源量测单元与待测体之间导线的电容,使得量测 变得快速且精准. 主从控制模式

52400 系列电源量测单元支援主从输出模式 (Master/Slave operation) ,在供电压-测电流 (FVMI) 模式下 ,需要较高电流时, 可发挥最佳弹性 化应用, 为达到模组间电流共享目的,52400 系列 电源量测单元可支援类似型号的通道并联,形成 较高电流/功率输出. 软体控制面板 当52400 系列电源量测单元标准配件中提供软体 控制面板 (Soft Front Panel) 让使用者执行验证测 试与除错功能.此软体控制面板具有图形使用者 介面 (GUI),方便使用者设定输出模式、围与输 出值;

同时,量测到的电压或电流读值将显示在画 面上供使用者读取,52400 系列软体控制面板亦 可同时控制两个通道的输出与量测值. 特点及功能 相容於混合式 PXI 四象限输出 高精密/量测解析度(多重档位) 低杂讯输出 高速量测 (100k s/S) 高输出转换率 (Slew Rate) 可存取之量测记录档 DIO 触发位元 硬体序列引擎-输出可程式化 可编程阻抗输出 浮接 &

护卫 (Guarding) 输出

16 组频宽选择 主从控制模式 LabView / LabWindows &

C/C# API 驱动程式 软体控制面板 应用围 半导体测试 LED / LD 测试 电池测试 电晶体量测 太阳能电池测试 电动车测试 航太电子测试 电力电子测试 感应器测试

524 0

0 系列电源量 测单元 (S M U,S o u r c e Measurement Unit) 为相容於混合式 PXI 模组设 计, 可安装於 PXI 或PXIe 机箱.52400 SMU 是一 款可进行高精密电压/电流供应源或负载模拟 ,同 时又可精确量测电流/电压值之综合高精密仪器设 备. 为符合各种量测条件,52400系列电源量测单元提 供16段频宽控制供使用者选择稳定的控制回路. 多重档位加上18-bit DAC/ADC 提供最佳程式、量 测解析度,取样频率 (Sampling Rate) 达到 100k s/S,特殊可编程输出阻抗可提供使用者设定电池 内部串联电阻 , 此特性让52400 系列电源量测单元 成为理想的电池模拟器. Systems Alliance 应用例 半导体测试应用中的电池模拟 装置电源 (Device Power Supply;

DPS) 可提供电压 用以驱动半导体 IC .随著行动通讯的普及 ,装置电 源可以来自 AC/DC 配接器或锂电池,测试电源管 理装置需要动态围, 不论ICs 的峰值电流或微小 电流,52400 系列电源量测单元均可在各种极端情 况下,精准的提供或量测电流,因此,在输入电流 动态围下, 不仅需要快速,同时更需要精确的量 测. 电晶体量测 I-V (电流-电压) 特性曲线可做为场效电晶体量测 的关键性指标.I-V 特性曲线的量测包括闸极泄漏 (Gate leakage)、 崩溃电压 ( Breakdown voltage) 与 汲极电流 (Drain current) 等. 为确保正确的量测结 果,各项量测参数需同时取得, 透过52400系列电 源量测单元同步量测功能, 可供使用者快速且精确 量测到这些重要参数. 电池内部的阻抗的影响 使用 52400系列 电源量测单元进行MOSFET测试 Peak Current High Current Low Battery Voltage Average Dip Caused by Battery'

s Internal Resistance MOSFET Drain Source Gate + Force - Force SMU Ch1 - Force + Force SMU Ch2

6 所有规格如有更动恕不另行通知. 高精准电源量测单元 Model