编辑: liubingb | 2019-07-12 |
12 MHz RC)周期. 刷新基于不同的时钟(慢时钟
32 ?s 周期),它将触摸面板从一次扫描(所有索引)转移到另一次扫描 (所有索引). 刷新时序随后会在
12 MHz RC 的边沿通过测量引擎重新同步.这样会在 ADC 采样过程中引入随机延时, 作用类似于扩频,产生的效果与跳频算法几乎相同. 第一次测试应仅使用刷新时间,然后检查噪声.如果仍然存在同步噪声故障,则可以激活跳频. 2.2.14 数字增益 数字增益与数字累加器滤波器(OVERSAMPLING)配合使用.设置数字增益值时,至少需要与过采样值 相同. 2.3 时序优化 在初始化时,测量 CC 后将其值增加 20%,以便将工艺差异考虑在内并为计算提供一些安全裕量. 2.3.1 PRSC 为了保持快速触摸扫描,PRSC 字段保持为 0.测量时基 Tb =1 ?s.客户可能会使用其他值,但请注意, 这样可能会降低测量速度. 2.3.2 补偿电容(CC) 补偿电容对于优化其他参数(例如 CSD、时钟速度和 Rs)非常有用. PTC 在初始化和参考漂移检测时测量传感器电容(comp_caps 字段).这项测量是完全自动化的,并为用 于按键检测的每个节点确定参考字段值. CC 是一个集成电容,因器件间的硅工艺差异而不同,具体差值范围约为标称值的±20%. 对于每个通道索引,均提取 CC 值. 示例: 在互电容中,X 和Y电极之间放置一个具有
10 pF 精确值的电容. comp_caps 字段的测量值为十六进制值 1234.此电容随后进行如下计算:CC = 1*(7pF)+ 2*(0.7pF)+ 3* (0.07pF)+ 4*(0.007pF)=8.638 pF.(comp_caps 更改为十进制). 其中,大约-14%的误差主要归因于工艺差异. 确定 comp_caps 值对于时序优化至关重要.这些值必须增加 20%.对于之后的计算,使用值 CC*1.2 是 所能考虑到的最坏情况. 2.3.3 单节点采集时间:Tacq PTC 采集时序取决于 picoPower 处理器(picoPower Processor,pPP)中经过
3 分频的时钟频率
12 MHz RC 以及随后的预分频比 prsc . 最终使用的时钟如下: ? 对于不可编程的固定延时,对4MHz 进行
4 分频. ? 对于可编程延时(CSD),ADC_Clock =
4 MHz 进行 4*Prsc 分频 ADC_clock 定义时基周期 Tb =1 ?s、2 ?s、4 ?s 或8?s.建议将 ADC_clock 保持在最快值
1 MHz(Tb =1 ?s).无需降低此频率值. AN2585 优化自电容或互电容测量参数 ?
2019 Microchip Technology Inc. 草稿 00002585A_CN-page
12 时序还取决于 CSD 和过采样参数. ? ADC_clock 的CSD(0 至255)是为了延长电容切换时间而引入的延时. ? 过采样参数用于定义滤波级别 X(1 至64),即用于求平均值的采样数. 下表列出了所有滤波器级别和最多
6 个CSD 值对应的时序测量结果.这些值的精度为±20%.当CSD 参 数为
0 至3时,对测量时间没有影响,但会影响质量,建议使用 CSD = 3. 当CSD =
4 及以上时,可通过如下简化公式估算采集时间: Tacq=3.Tb* (OSR*CSD+4)+3*X+16(?s) ? Tb:时基(?s) ? X:过采样滤波器级别(1 到64) ? CSD:0 至255 表2-2.?Tb =
1 ?s 时的 Tacq(?s) Tacq/节点 PTC_FILTER_LEVEL_x CSD x=1 x=2 x=4 x=8 x=16 x=32 x=64 CSD=0 CSD=1 CSD=2 CSD=3
35 48
76 131
242 462
902 CSD=4
36 51
81 141
261 501
981 CSD=5
39 57
93 165
309 597
1173 CSD=6
42 63
105 189
357 693
1365 表2-3.?Tb =
2 ?s 时的 Tacq(?s) Tacq/节点 PTC_FILTER_LEVEL_x CSD x=1 x=2 x=4 x=8 x=16 x=32 x=64 CSD=0 CSD=1 CSD=2 CSD=3
59 87
142 252
472 912
1790 CSD=4
60 87
141 249
465 897
1761 CSD=5
66 99
165 297
561 1089
2145 CSD=6