编辑: 捷安特680 | 2019-07-13 |
71 Cerabar S PMP
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75 Cerabar S 采用陶瓷或压阻式硅传感器,抗过载,带功能监测 具有 HART,PROFIBUS-PA 或FF 通信协议 应用 Cerabar S 可用于解决以下测量问题: ・各种过程控制领域中气体、蒸汽或液体的绝压 和表压测量 ・液体液位、体积或质量测量 ・耐高温, 不带膜片密封的条件下最高温度可达 280℃(536°F) ・最高压力可达
700 bar TI 383P/28/zh/06.
08/(07.08) 特点 ・长期稳定性优 ・高精度:±0.075% 铂金级:±0.05% ・量程比 100:1,特殊要求可更高 ・满足 PED(压力设备规程)要求 ・HistoROMTM 历史存储模块 ・对测量元件和电子模块进行功能监测 ・模块化设计 ―可更换的显示单元 ―压力和差压通用的电子模块 ・通过快速设定菜单进行快速调试 ・现场菜单引导式操作,安全简便,具有 HART,PROFIBUS-PA或FF通信协议 ・广泛的自诊断功能
2 功能和系统设计 Cerabar S- 产品系列 PMC
71 陶瓷膜片的 电容测量元件 (Ceraphire ) PMP71 金属焊接膜片的 压阻式硅测量元件 PMP72 高温型 (测 量膜片 齐平 式安装) PMP75 带膜片密封 应用场合 ―表压和绝压 ―液位 ―表压和绝压 ―液位 ―表压和绝压(高温) ―液位 ―表压和绝压 ―液位 过程连接 ―多种螺纹规格 ―DN 32-DN
80 ―ANSI 11/2 -4 ―JIS 50A ―多种螺纹规格 ―DN25-DN80 ―ANSI
1 -4 ―椭圆法兰连接头 ―化学密封膜片 ―G2A,2 NPT 螺纹 ―DN25-DN80 ―ANSI
1 -4 多种膜片密封 见英文技术资料 测量量程 -0.1/0...100 mbar ~-1/0...40 bar -0.1/0...100 mbar ~-1/0...700 bar -0.1/0...100 mbar ~-1/0...40 bar -0.1/0...100 mbar ~-1/0...700 bar 过压限制 max.60 bar max.1050 bar max.160 bar max.1050 bar 过程温度 -40...+125℃/+150℃ (-40...+257 F/+302℃) -40...+125℃ (-40...+257 F) 最高可达+280℃ (+536 F) 带膜片密封,最高 可达+350℃(+662 F) 环境温度 -40...+85℃ (-40...+185 F) -40...+85℃ (-40...+185 F) -10...+85℃ (+14...+185 F) -40...+85℃ (+40...+185 F) 参考精度 ―可达±0.075%设定量程 ―铂金级±0.05% 电源 ―非防爆区:10.5...45V DC 可达±0.075%设定量 ―EEx ia:10.5...30V DC 程+膜片密封的影响 输出 4...20mA 带HART、PROFIBUS-PA、FF基金会现场总线通信协议 选项 ―PMP71,PMP75:铑-金涂层膜片 ―PMP71,PMP72,PMP75:NACE 材质认证 ―PMC71,PMP71,PMP72,PMP75:3.1B材质认证 特殊性 ―PVDF,非金属 过程连接 ―油类最小体积 过程连接 ―气密,无弹性 ―高温介质 ―油类最小体积 过程连接 ―完全焊接型 ―多种膜片密封 ―高温介质 ―油类最小体积 过程连接 ―完全焊接型 注:详细技术参数和过程连接见英文资料 TI383P/00/en
3 测量原理 陶瓷测量膜片用于 PMC71(Ceraphire ) PMP75 工作压力作用在密封膜片上,通过填充液传送到传 感器隔离 膜片,隔离膜片产生偏移并通过填充液把压力传 送到电阻桥 路上,与压力相关的桥路输出电压的变化被测 量并进一步处 理. 优点: ・过程压力从 100mbar~700bar ・长期稳定性好 ・保证抗过压能力达到正常压力的
4 倍 ・第二腔室用于提高机械强度,阻止因传感器损坏导致介质 泄漏 陶瓷传感器
1 通气孔
2 陶瓷基板
3 电极
4 陶瓷膜片 测量系统 测量系统采用 4...20mA 带HART 通信协议 陶瓷传感器是干式传感器,过程压力直接作用在坚固的陶瓷 膜片上,基板电极和膜片电极可以检测出与压力相关的电容 变化,测量范围取决于陶瓷膜片的厚度. 优点: ・膜片破碎的自诊断功能 ・保证抗过压能力可达正常压力的