编辑: glay 2013-05-11

1 +

6 1BA粉B+ 4粉#n*n* * # )

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6 1 A\ # ! # G

9 2 BA粉B+ 4粉#n*n* * = )

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9 2 ;

\ G ! >

- C -!本底测量 为得到6

1 ;

\ # 对 同量 异位 素本底* #

9 2的 压低因子! 在中国原子能科学研究院 ? ] F * =串列+X6上对商业6

1 ;

#空白样品进行测定&

将约J- 4商业

6 1 ;

#样品与# ) )目银粉混合 质 量比约为#n* $ ! 用压靶器压入小孔铝靶锥! 最 后将靶锥装入可容纳! )个靶锥的靶盘! 靶盘在 >

) Z下烘烤* #:! 最后将靶盘装入 XA F

6 ( ] A

6 X P &

, . F A

7 , : %

86 % P

3 / 2% E(

2 4

7 , . U 2] % 1<

5A

2 @ . P -

6 C P , ,

2 3 .

1 4 $ 型多 靶强流源待测&

测量时! 端电压为J [ # X$! 引出

6 1 ;

\ = 负离子! 剥离后电荷 态选择* *B ! 交替注入* # !

6 1 ;

\ = 和* #

6 1 ;

\ = ! 并用 法拉第筒测量* # !

6 1 ;

\ = 束流得到* # !

6 1计数率! 除以* # !

6 1的天然同位素丰度即可得到

6 1的计 数率&

通过&

0F0探测器在高能端对样品进行* #

9 2本底探测! 再结合加速器的传输效率及 探测器的探测效率即可计算得到* #

9 2 )

6 1原子 个数比本底值! 为* [ I #^* )\* ) &

该结果表明! 采用6

1 ;

\ = 分子负离子引出形式可压低* #

9 2 本底至* )\* ) 量级&

- C G!参考标准的 !0 I测量 为验证测量的可靠性! 在中国原子能科学 研究院 ? ] F * =串列 +X6上对系列参考标准的 原子个数比进行测定&

将所制的

6 1 ;

# 商业空 白样品及标准样品与银粉按质量比#n*压入 铝靶锥中&

为选取较高的能量以利于高能端探 测器进行分辨! 测量时! 端电压升为J [ >

X$! 引出61;

\ = 负离子! 碳膜剥离后的电荷态选择**B ! 交替注入* # !

6 1 ;

\ = 和* #

6 1 ;

\ = ! 并用法拉第 筒测 量* # !

6 1 ;

\ = 束流得到* # !

6 1 计数率! 除以>

G*第#期!!沈洪涛等( 基于

6 1 ;

#靶样的加速器质谱测量裂变产物* #

6 1的方法研究 * # !

6 1的天然同位素丰度即可得到61的计数率通过充有* ) GT 7T * )气体的&

0 F 0探测器 测量* #

6 1 的双维谱得到* #

6 1 的计数 率 再考 虑加速器的传输效率及探测器的探测效率即可 计算得到* #

6 1

6 1原子个数比 +X6测量 要求较高的粒子鉴别能力为此........

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