PDF《简介 1》

2 字节代码,第一字节代表生产厂家,第二字节代 表型号. 写速度: 不同厂家的产品编程速度可能不一样 ,既使同一厂家的 产品,其型号不同编程速度也可能不一样.一般可设为标准 速度. 自动 编程操作 该操作根据 组合操作 框内的选择自动完成对器件的 编程操作,可提高芯片的编程效率. 2. 读写单片机 以89c51 为例,在 选择厂家/型号 窗口中选择 类型: 单片机 制造厂家: ATMEL 器件型号: AT89c51 按 确认 键,弹出单片机读写窗口如下:

19 以下操作与读写并口存储器相同: 写器件、读器件、擦除、检查空片、校对数据、读厂家、 自动. 加密: 加密方式选择可以对单片机采取不同的加密模式. 校对电压: 在低电压下工作的器件,应该选择对应的校对电压来检 验写入的代码, 以确保代码写入是正确的. 校对电压不影响 写电压和读电压. 烧写速度:

20 只有两项选择, 由于厂家生产工艺的改变, 写器件的延时有 时会有差异,一般慢比快好,但是会浪费宝贵的时间. 3. 读写串口存储器 以24c02 为例,在 选择厂家/型号 窗口中选择 类型: 串口存储器 制造厂家: 器件型号: 24c02 按 确认 键,弹出串口存储器读写窗口如下: 选择写速度: 串口存储器 写速度 差异极大,选择最慢当然不会错,

21 但是会使写过程很长, 如果要求快速, 最好通过选择不同的 速度实验取得.速度太快时,相邻数据会重叠出错.一般选 择2-20mS 相对合适. 读器件: 功能与 读写并口存储器 相同. 写器件: 这个系列的器件以覆盖方式写入,既器件不需要 擦除 . 比较数据: 功能与 读写并口存储器 相同. 4. 读写 PLD 以ATF20V8B/L 为例,在 选择厂家/型号 窗口中选择 类型: 可编程逻辑器 制造厂家: ATMEL 器件型号: ATF20V8B/L 按 确认 键,弹出 PLD 读写窗口如下:

22 读器件:功能与 读写并口存储器 相同. 写器件: 将文件缓冲区的数据写到器件中,文件数据必须预先准 备好.PLD 器件采用 JECED 格式的 溶丝文件 ,扩展名为 .JED ,器件也必须是空的才能写入. 校对数据:功能与 读写并口存储器 相同. 擦除器件: 擦除器件中原有的内容,包括与或阵列熔丝、构控制字 段、标志字段等. 3.2.3 自动探测厂家和型号: 对未知型号的器件, 可用本功能找出其型号, 逻辑功能相同 的器件,可能有几种不同的型号,窗口中都会同时显示出来.

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第四章 测试 SRAM 和通用集成电路 4.1 测试 SRAM 以628128 为例,在 选择厂家/型号 窗口中选择 类型: 测试 SRAM 制造厂家: SIAND 器件型号:

628128 128K*8 按 确认 键,弹出测试 SRAM 窗口如下: 本菜单主要用于测试常用的静态存储器 SRAM,按 自动 按钮,编程器对存储器的每一位进行测试,确保测试的可靠性. 该操作仍保留了对自带电池静态存储器的读、写操作,如:

24 DALLAS 厂家生产的一些型号,以便满足某些用户的需要. 4.2 测试通用集成电路(这一节内容不适合 TOP853) 可测试 74,45,30 三个系列数千种型号器件的好坏和逻辑 功能.以ATF20V8B/L 为例.在 选择厂家/型号 窗口中选择. 类型: 测试 TTL/CMOS 按 确认 键,弹出测试窗口如下: 选择待测试器件的系列类型,型号后按测试键 .如果器件........