编辑: Mckel0ve | 2018-06-22 |
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24 ROHDE &
SCHWARZ, SMHU, 2V p-p SIGNAL SYNTHESIZER ROHDE &
SCHWARZ, SMHU, 2V p-p SIGNAL SYNTHESIZER BAND-PASS FILTER USB CONNECTION 05941-001 HSC-ADC-EVALB-DC FIFO DATA CAPTURE BOARD PC RUNNING ADC ANALYZER C + 3.3V GND VCC 6V DC 2A MAX WALL OUTLET 100V TO 240V AC 47Hz TO 63Hz CHB PARALLEL CMOS OUTPUTS EVALUATION BOARD CHA PARALLEL CMOS OUTPUTS XFMR INPUT CLK SWITCHING POWER SUPPLY SPI SPI SPI ADC FIFO套件 CLOCK INPUT FILTERED ANALOG INPUT SINGLE OR DUAL HIGH-SPEED ADC EVALUATION BOARD 120-PIN CONNECTOR HSC-ADC-EVALB-SC OR HSC-ADC-EVALB-DC CLOCK CIRCUIT LOGIC SPI ADC n n SPI +3.0V REG PS CHB FIFO, 32K, 133MHz TIMING CIRCUIT CHA FIFO, 32k, 133MHz USB CTLR PS REG STANDARD USB 2.0 05941-002 应用笔记 作者:Brad Brannon和Rob Reeder 应用范围 本应用笔记将介绍ADI公司高速转换器部门用来评估高速 ADC的特征测试和生产测试方法.本应用笔记仅供参考, 不能替代产品数据手册. 动态测试硬件设置 SNR、SINAD、最差杂散和IMD均通过类似于图1的硬件设 置进行测试.在生产测试中,测试硬件均高度集成,但硬 件原理都是一样的.动态测试的基本设置包括一个信号发 生器、带通滤波器、测试夹具、低噪声电源、编码源(通常 集成于评估板中)、数据采集模块和数据分析软件.ADI公 司提供了相应的应用软件和硬件,用以在基准评估中提供 帮助.请参阅 ADC FIFO套件 部分. FIFO板可通过一根标准USB线连接至个人计算机,并配合 ADC Analyzer软件对高速ADC的性能进行快速评估.用户 可以查看特定模拟输入和时钟速率的快速傅立叶变换 (FFT),并对信噪比(SNR)、信纳比(SINAD)、无杂散动态 范围(SFDR)和谐波数据进行分析.FIFO板有单通道和双通 道两种版本可供选择.对于某一特定ADC该选择哪一版本 的决定,请参阅FIFO数据手册.LVDS和串行输出器件可 能需要附加一块称为HSC-ADC-FPGA的适配板.这些会在 产品数据手册中特别说明.有关HSC-ADC-FPGA串行 LVDS适配板、FIFO以及ADC Analyzer软件工作原理的更 多信息,请访问ADI公司网站:www.analog.com/FIFO. 高速ADC FIFO评估套件(HSC-ADC-EVALA-SC/HSC- ADC- EVALA-DC和HSC-ADC-EVALB-SC/HSC-ADC-EVALB-DC) 包括一块存储板,用以获取来自ADI公司高速模数转换器 (ADC)评估板和ADC Analyzer?件的数字数据块.有关ADC FIFO评估套件的更多信息,请访问: www.analog.com/FIFO. 图2 典型ADI ADC FIFO套件设置 图1 典型特征测试设置 AN-835 Rev.
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24 目录 修订历史 4/06 ― 版本0:初始版 应用范围
1 动态测试硬件设置
1 ADC FIFO套件
1 修订历史
2 背景知识
3 ADIsimADC
3 模拟信号源
4 模拟信号滤波器.4 编码信号源
5 电源
6 数据采集
6 交流测试定义
7 FFT测试
7 单音FFT
7 双音FFT
9 噪声功率比(NPR, dB)10 全功率带宽(MHz)11 抖动测试
12 模拟输入
13 模拟输入满量程范围(V p-p)14 共模输入范围(V)15 共模抑制比(CMRR, dB)15 孔径延迟(ps)16 孔径抖动或孔径不确定度(psRMS)17 串扰(dB)17 等效输入噪声(LSB RMS)17 范围外恢复时间(时钟周期)17 数字时域
17 转换误码率(CER)19 直流测试定义
20 增益误差(%FS)20 增益匹配(%FS)20 失调误差(%FS)20 失调匹配(mV)20 温度漂移(ppm)20 高电平输出电压/低电平输出电压(VOH/VOL,V)20 线性度