PDF《MODEL 19301A》

USB LAN HANDLER RS-232 Chroma 19301A 为绕线元件脉冲测试器,结合 了高低感量测试技术应用,拥有1000Vdc脉冲电 压与200MHz高速取样率,可提供0.

1uH~100uH 大围感量产品测试满足绝大部份功率电感 测试需求,拥有波形面积比较(AREA SIZE)、 波形面积差比较(DIFFERENTIAL AREA)、波 形颤动侦测(FLUTTER)、波形二阶微分侦测 (LAPLACIAN)、波峰降比侦测(ΔPEAK RATIO)/ 波峰比侦测(PEAK RATIO)及共振波面积比(Δ RESONANT AREA)等判定方法,可有效检测线 圈自体绝缘不良. 绕线元件於生产检测包含电气特性、电气安规耐 压进行测试,而线圈之自体绝缘不良通常是造 成线圈於使用环境中发生层间短路、出脚短路 之根源.其形成原因可能源於初始设计不良、 molding加工制程不良,或绝缘材料之劣化等所 引起,故加入线圈层间短路测试有其必要性. Chroma 19301A 为针对绕线元件测试需求所设 计,利用一高压充电之微小电容(测试能量低)与 待测线圈形成RLC并联谐振,由振荡之衰减波 形,透过高速且精密的取样处理分析技术,可检 验出线圈自体之绝缘不良,提供功率电感元件进 行绕线品质及磁芯之耐压测试,让元件生产厂商 及使用者能更有效的为产品品质把关. Chroma 19301A 应用於低感量绕线元件测试, 最小感量可达0.1uH,针对低感量测试特性提供 四线式测量、接触检查功能、电感检查与电压补 偿功能,可避免因待测物感量变化大或配线等效 电感而造成测试电压误差大,为低感量绕线元件 脉冲测试最佳利器. Chroma 19301A 於自动化生产上应用,拥有超 高速测量速度有效缩短测试时间提升生产效率, 且电压补偿功能改善了自动化机台配线等效电感 之影响. 全新的人机操作介面,整合图形化彩色显示并提 供画面撷取功能,透过前面板USB储存波形,不 仅适用於生产现场,更可应用於研发、品保单位 使用进行样品分析比对,大幅提升操作便利性. 绕线元件脉冲测试器 IMPULSE WINDING TESTER MODEL 19301A MODEL 19301A 特点 高低感量测试应用(0.1?H~100?H) 10V~1000V脉冲测试电压, 0.25V测量解析度 高速测试最快18mS (Pulse 1.0 ;

for ACQ) 具备电感测量接触检查功能 具备电感差异电压补偿功能 脉冲测试高取样率(200MHz),10bits 崩溃电压分析功能 低电压量测档位,提高波形分析灵敏度 (25V/50V/100V/200V/400V/800V/1000V) 繁中/ 简中/ 英文操作介面 USB波形储存与画面撷取功能 图形化彩色显示 标准LAN、USB、RS232 介面 量测技术 脉冲测试概论与原理 『绕线元件脉冲测试』是对待测物施加一个『非破坏性』、高速、低能量之电压脉冲.由於电容(Cs)与绕线元件并联,当脉冲电压加压於并联线路上时, 电容与绕线元件产生LC谐振(Resonance),观察谐振振荡(Oscillations)的衰减情况也就是阻尼(Damping)来了解绕线元件内部线圈的制程状态(包含线圈自 体之绝缘、线圈感量及并联电容量(Cw)等状态)(如图1: 测试等效电路图) .也可藉由分析/比对待测物良品与不良品之等效波形以达到判定良否之目的. 绕线元件脉冲测试主要功能为提早发现绕线元件中各种潜在之缺陷(例如:绕线层间短路、电极焊接不良、内部线圈或磁芯绝缘不良等). Rp检查 (Rp Check) 利用波峰比侦测(Peak Ratio)来侦测Rp的大小为Chroma特有的测试技术,可检出Rp异 常或劣化. 部分电感待测物在测试前既已因铁芯损失过大或轻微铁芯与漆包线短路导 致Q值略低(Rp小),脉冲测试结束后,将开关开路(SW1 OFF)并观察电压震荡波形中第 一个峰值与第二个峰值的衰减速度及比例之差异来检测出异常品.波峰比的值越大表 示Rp的值也越大,相对的Q值也会比较高. 波形判定模式 波形面积比较 (Area Size) 将样本和待测物彼此之总面积大小进行比对,面积大小与待测物线圈绝缘有关,线圈绝 缘不良会造成波形快速衰减, 因此面积会相对较小. 波形面积差比较 (Differential Area) 将样本和待测物做点对点面积差异以及设定之判定条件进行比对,此测试与待测物的感 量变化有关联,感量差异会造成后段线圈自体震荡频率改变使波形的点对点面积产生差 异. 波形颤动侦测 (Flutter Detection) 以一阶微分演算出波形上产生之总放电量,再与样本之波形总放电量做比对. 放电量二次微分侦测 (Laplacian Value) 以二阶微分演算后,与设定之判定条件做比对,可有效检测出因电气放电或电极焊接不 良引起波形快速变化现象. Sampled waveform area Sampled waveform Sampled waveform Di erential area Test wavefrom Test wavefrom Partical discharge (图4) 波形面积示意图 (图5) 波形面积差比较示意图 (图6) 局部放电波形示意图 (图1) 测试等效电路图 (图2) 耐压测试 (WV Test) (图3) 测试波形示意图 Ri SW1 Cs Cc Cw R L Vo 电感等效电路 Winding Under Tester Vo : 测试器内部电压 Ri : 测试器内部电阻 Cs : 测试器内部谐振电容 Cc : 测线容量 Cw : 线圈并联电容 Rp : 能量消耗等效并联电 阻Vt(1) 施加Impulse (2) 振荡衰减包络线状态 WV Test SW1 ON SW1 OFF Rp Abnormal Detection V SW1 ON (WV Test) - Area Size - Differential Area - Flutter Detection - Laplacian Detection SW1 OFF (Rp/Q Check) - ? Peak Ratio (IWT test) - Peak Ratio (BDV test) - ? Resonant Area 低感量脉冲测试技术 Chroma 19301A 为针对低感量绕线元件待测物而开发,最小测试感量可对0.1uH产品进行层间短路测试,低感量待测物有别於一般感量产品测试应 用,因待测物的感量较低,所以容易受到测试回路上配线之等效电感影响.测试电压产生分压於配线上,使待测物端电压远低於量测的设定电压.另外,如低感量的Power choke ,其工作电压应用於较低电压,因此其脉冲测试电压通常会低於一般感量产品. 波峰比侦测(Peak Ratio) 在IWT BDV Test模式下,将待测物自体谐振波形的第一个峰值与第二个峰值计算出波峰比. 并可利用波峰比的容许围来判定待测物是否过度劣化.亦可用於分析待测物的劣化电压点/ 崩溃电压点. 波峰降比侦测(ΔPeak Ratio) 在IWT Test模式下,将待测物自体谐振波形的第一个峰值与第二个峰值计算出波峰比,并将此波峰比与样品的波峰比进行比较.如果待测物与样品 的波峰比相同, Δ PEAK RATIO将会等於0%. Δ PEAK RATIO为待测物与样品的波峰比差所占样品的波峰下降比之比例. 操作者可利用Δ PEAK RATIO的上下限设定来设定容许的围,以便筛检出与样品差异较多的异常品. 共振波面积比较 (ΔResonant Area) 在IWT Test模式下,概念与波形面积比较相当,针对开关(SW1)开路后待测物所产生的自体 谐振波形做观察,并将待测物与样品的自体谐振波形总面积进行比较,面积大小与待测物线 圈绝缘有关,线圈绝缘不良会造成波形快速衰减, 因此面积也会相对较小. 四端测量 一般两线式层间短路测试设备因电压侦测在电流回圈内部,在低感量待测物,测得电压值 与实际待测物上的值有很大差距,Chroma 19301A 采用双同轴线四线侦测方式,大幅提 高电压精度,达到正确测试效果. Peak Ratio = ??2