PDF《MODEL 19301A》

1 ?? * 100% Peak Ratio = ?? * 100% ? Peak Ratio = ???????? ?????????? ? ???????? ?????????? ???????? ????????????????????? Sample Sample Test * 100% 低电压档位 低感量产品,如智慧型手机中的P o w e r choke,其工作电压较低且体积较小,可测 试电压相对较低,因此用於量测低感量之脉 冲测试设备需具备较低电压档位来进行波 形分析,Chroma 19301A 具有七个电压档 位分别为25V,50V,100V,200V,400V,800V及1600V,以及拥有最低0.25V的电压辨识度, 最小测试电压可从10V开始进行测试,可有 效提高波形判定辨识能力. SW1 Ri Cs Lx V Charge (图11) 四端测量示意图 25V 25V (图9) 19301A低感脉冲测试器的测试波形 (图10) 一般脉冲测试器的测试波形 (图7) 波峰比侦测(Peak Ratio detection)示意图 (图8) 共振波面积示意图 1st peak 1st period 2nd period P1 P2 2nd peak As Sample waveform (Reference waveform) 接触检查功能 (专利 I516773) Chroma 19301A 於测试前会进行接触检查,避免因为接触不良或开路使得内部以最大电压输出造成治具端探针接线因高压而跳火,导致待测物受到 损坏.并可延长探针使用寿命. 电压补偿功能 (专利 I516773) 一般如变压器等感量较大的线圈进行测试时 ,配线等效感量相对较小, 但在低感量测试时,低感量待测物(如0.2uH)会因配线等效感量大小会影响待 测物上之实际电压,尤其在自动化测试应用时, 降低配线影响是一重要设计考量.过高的配线阻抗会使低感量测试时电压分压在测线上, 导致待测 物上的电压低於设定值而无法有效检出不良品.且电感产品感量规格最高可达正负30%,因此於低感量测试应用时,会因待测物感量变化而造成实际 端点上电压差异更加明显,导致波形面积判定失效或测试电压未达要求之电压.Chroma 19301A 具备电感差异电压补偿功能,改善上述问题及降低 因感量差异造成於端点上实际电压的差异,进而降低误判的可能性. 一般应用时电感待测物(Lx)两端端电压(Vx)会与配线电感(Li&

Lw)於线路上形成串联分压,其计算方式如下 : (图13) 无电感差异电压补偿功能 (图14) 具有电感差异电压补偿功能 Vo Li Lw Li Lw Cc Lx Vx V Lw : 配线等效电感 Lx : 电感待测物 1?H 0.8?H 1?H 0.8?H 高低感量产品测试 Chroma 19301A 除了低感量产品测试技术外,也同时涵盖到较高感量产品测试应用,可从0.1uH ~ 100uH .於测试初始进行样品取样时,透过内部 电感量测量功能得知待测物感量大小,自动切换到合适档位进行测试(切换点可设定),使待测物在适当波形下进行比对测量,对使用者操作来说是相 当便利的一项功能.单一台层间短路测试器即结合了高低感量产品测试应用,客户於生产线上进行产品更换时可省略设备更换时间,不仅缩短了产品 换线工时同时也降低工厂设备负担,有助於工厂端生产管理也替客户节省设备资本支出之成本. 崩溃电压分析 (B.D.V - Breakdown Voltage) Chroma 19301A 具有崩溃电压分析功能,设定起始电压与结束电压及电压爬升率,利用电压爬升过程侦测波形面积比(Area SIZE) 、二阶微分侦测 (Laplacian) 及波峰比侦测(PEAK RATIO)判定是否超过设定值,测试出线圈可承受耐电压强度,藉由这些功能,研究人员可以对产品进行分析与研 究,针对线圈较弱的地方做改善. 劣化点分析(Deterioration Point Analysis) 在IWT BDV Test模式下,利用波峰比的容许围来判定待测物是否过度劣化.亦可使用数从渺斗治龃馕锏牧踊缪沟/崩溃电压点. 产品应用 (图15) 劣化点分析示意图 PK_Ratio(%) V Insulation deterioration