PDF《Intel? Socket Test Technology》

文件号码 : 307507-002 Intel? Socket Test Technology 应用说明书 适用於 LGA775 插槽 产品代码 JM8YKZLVA

2006 年10 月 简介

2 307507-002 本文使用的「英特尔产品」系指 LGA775 插槽的 INTEL? SOCKET TEST TECHNOLOGY,产品代码为 JM8YKZLVA.

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3 内容

1 简介.7 1.1 辞汇.8 1.2 参考文件.8

2 理论.9

3 用数位向量进行接电测试 (ICT)11 3.1 使用电压识别器 (VID) 讯号.11 3.2 使用控制讯号.11 3.3 使用测试架载入.13

4 未接电测试 (MDA)14

5 相关规格.17

6 球的使用.19 简介

4 307507-002 图图1-LGA775 插槽的 Intel ? Socket Test Technology JM8YKZLVA 测试 晶片 (LGA775YP)7 图2-LGA775 插槽的 Intel ? Socket Test Technology - 区块图形 JM8YKZLVA 测试晶片 (LGA775YP)10 图3-典型的开关对偶组态.14 图4-低端开关的仪器设定.15 图5-高端开关的仪器设定.15 图6-最佳化球涵盖围图.31 表表1-电压识别器讯号.11 表2-控制讯号.12 表3-测试架载入.13 表4-电力操作参数.17 表5-测试高端开关的情况 (数位通电)17 表6-测试低端开关的情况 (数位通电)18 表7-测试开关的情况 (未通电的类比)18 表8-将球当成控制讯号使用.19 表9-球分组/功能.19 表10 - 零Ohm 电阻.28 表11 -