PDF《AEC-Q100, Q101, Q200》

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prisemi.com AEC-Q100, Q101, Q200 Prisemi Date: 2017/9/04 www.prisemi.com Self-Introduction Hanson Zheng (郑朝晖) 教育经历: 1991~1995 SJTU 学士 精密仪器专业 1995~1998 SJTU 硕士 电子工程测控 工作经历: 1998~2004 Beilling 测试工程经理 2004~2004 Amlogic 运营经理 2004~2011 Atheros 中国区运营总监 2011~2017 Qualcomm 工程总监 2017~Now Prisemi 工程质量副总经理 www.prisemi.com 车用电子零件分为三大类别,包含IC、离散半导体、被动元件三大类别, 为了确保这些汽车电子零组件符合汽车安全的最高标准,美国汽车电子协会 (AEC,Automotive Electronics Council )系以主动零件[微控制器与积体电路..等] 为标的所设计出的一套标准 [AEC-Q100]、针对被动元件设计为[[AEC-Q200], 其规了被动零件所必须达成的产品品质与可靠度,AEC-Q100为AEC组织所 制订的车用可靠性测试标准,为3C&

IC厂商打进国际车用大厂模组的重要入 场卷.此外,目前国际大厂已经通过车用安全性标准(ISO-26262),而AEC- Q100则为通过该标准的基本要求. AEC规免费下载网页: http://www.aecouncil.com/AECDocuments.html AEC-Q100 IC集成电路 ACE-Q101 离散元器件 AEC-Q200 被动元件 www.prisemi.com 汽车电子零件工作温度等级定义: 0等级:环境工作温度围-40℃~150℃ 1等级:环境工作温度围-40℃~125℃ 2等级:环境工作温度围-40℃~105℃ 3等级:环境工作温度围-40℃~85℃ 4等级:环境工作温度围0℃~70℃ www.prisemi.com 简称 中文 英文 说明 AEC 美国汽车电子协会 Automotive Electronic Council 由车厂[克莱斯勒(Chrysler)、福特(Ford)、 通用汽车(GM)]发起并创立於1994年AEC-Q001 零件平均测试指导原则 AEC-Q002 统计式良品率分析的指导原则 AEC-Q003 晶片产品的电性表现特性化的指导原则 AEC-Q100 基於积体电路应力测试认证的失效机理 规了零件供应商所必须达成的产品 品质与可靠度,试验条件多仍以JEDEC 或MIL-STD为主,外加上其他独立建置 的测试手法. AEC-Q100-001 邦线切应力测试 AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试 AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试 AEC-Q100-004 积体电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、资料 保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR) AEC-Q100-009 电分配评估 AEC-Q100-010 锡球剪切测试 AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试 AEC-Q100-012 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述 AEC 规范 www.prisemi.com 简称 中文 英文 说明 AEC-Q101 汽车级半导体分立器件应力测试认证 AEC-Q200 无源器件应力测试标准 AEC-Q200-001 阻燃测试 AEC-Q200-002 人体模式静电放电测试 AEC-Q200-003 横梁负载、断裂强度 AEC-Q200-004 自恢复保险丝测量程式 AEC-Q200-005 板弯曲度测试 AEC-Q200-006 表面贴装后的剪切强度测试 AEC-Q200-007 电涌测试 DPM 百万缺陷数 defect per million 半导体元件的缺陷率 HRCF 高可靠性认证流程 High Reliability Certified Flow ISO-26262 车辆机能安全 PPAP 生产零件批准程序 Production Parts Approval Process SAE J1752 积成电路辐射测量程序 MIL-STD-883 微电子测试方式和程序 JEDEC JESD-22 装气件可靠性测试方法 EIA/JESD78 积成电路闭锁效应测试 ST 应力测试 stress testing UL

94 器件和器具塑料材质零件的易燃性测试 Zero Defect 零缺陷 AEC 规范 www.prisemi.com ?AEC - Q101: Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Discrete Semiconductors ?AEC - Q101 Rev - D1: Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Discrete Semiconductors (base document) ?AEC - Q101-001 - Rev-A: Human Body Model (HBM) Electrostatic Discharge Test ?AEC - Q101-003 - Rev-A: Wire Bond Shear Test ?AEC - Q101-004 - Rev-: Miscellaneous Test Methods ?AEC - Q101-005 - Rev-: Charged Device Model (CDM) Electrostatic Discharge Test ?AEC - Q101-006 - Rev-: Short Circuit Reliability Characterization of Smart Power Devices for 12V Systems AEC-Q101 元器件规范 www.prisemi.com AEC 认证流程 www.prisemi.com AEC-Q101 元器件认证列表 www.prisemi.com AEC-Q101 元器件认证列表 www.prisemi.com AEC-Q101 元器件认证列表 www.prisemi.com AEC-Q101 元器件认证列表 www.prisemi.com AEC-Q101 元器件认证列表 www.prisemi.com AEC-Q006 元器件Cu-Wire www.prisemi.com AEC-Q101 元器件认证计划 www.prisemi.com AEC-Q101 元器件测试结果表格 www.prisemi.com AEC-Q101 工艺变更对应测试 A Acoustic Microscopy H Hermetic part only