PDF《第4章 显微镜之构造、原理及使用》

或将多张同平面?同萤光探针的相片重 叠,可研究其相对部位的关系;

或由一系??同平面的相片,可组合成三 维空间的?体影像;

再加入时间因子,可创造出动态的4D 影像. 图4-5. ?射扫描共轭焦显微镜(左)及所观察之影像(右)

(四)电子显微镜:电子显微镜(Electron microscopy),一般简称为 EM,依成 像的过程和构造的复杂性,可分为扫描式和穿透式电子显微镜等二大?. ?用电子显微镜观 察之标本实必需经特殊步骤处?后,方可观察.另外,还有扫描式原子探测显微镜,目前应用於观察 原子或分子的形?. 由於这些设备昂贵,皆属於国 家贵重仪器,且技术性高,需有专人处?. 1. 穿透式电子显微镜(TEM): 以电子枪(electron gun)发射之电子束 (electron beam)为光源,由於该波长极短,可以直接穿透 0.2 μm 的 标本,使影像在 photographic plate 上呈现 2-D 的结构. 2. 扫描式电子显微镜(SEM): 以电子枪(electron gun)发射之一次电子束 (称primary electron beam)为光源,该波长极短,再照 射在样品标本 表面(通常外表镀?)后,会激发二次电子束(secondary electron beam) 反射,使影像为电子接收器接收,经一??影像放大后,会在萤幕上呈 现3-D 的物体外表影像结构. 图4-6. 穿透式(左?)及扫描式(右?)电子显微镜及所 观察之影像

五、光学显微镜之镜头:

(一) 物镜 (objective lenses) :锁定於标本台上方之物镜转盘 (nosepiece or turret) 上.每一个物镜有固定之放大倍?(magnification, M)、?值光圈(numerical aperture, NA)与工作距?(working distance).(?值光圈表示物镜捕捉光线 的能?:?值越高,捕捉光线的能?越强,亦即物镜之解像能?越佳.工作距 ?指成像时物镜与标本表面的间距,与放大倍?成反相关.)物镜之放大倍? 介於2*-100*之间,40*-80*者称为高乾镜头(hig........